NTTと北海道大学 宇宙用半導体のソフトエラー評価実証
NTTと北海道大学は、宇宙環境における半導体のソフトエラー発生率を地上の中性子照射試験で評価できることを実証しました。これにより試験の効率化が期待されます。
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NTTなど、陽子と中性子による半導体障害発生率の同一性を初めて実証 | TECH+（テックプラス）
・NTTと北海道大学が、宇宙で支配的な20MeV以上（宇宙中の陽子の80%以上）で陽子と大気中中性子の半導体ソフトエラー発生率が同等であることを初めて実証しました。 ・10–65MeVや70–220MeVの陽子照射と中性子測定を比較し、高精度中性子試験により低〜100MeV帯を一回の照射で評価可能になったぽい。 ・地上中性子試験を宇宙評価に流用でき、試験効率・コスト削減が期待され、NTTは商用サービス化や国際宇宙ステーション (ISS)での実証（PEGASEUS）を目指すぽい。